这家企业成功突破SiC技术的难点,实现了国产化突围。

2023-11-08 17:24:00 苏州联讯仪器股份有限公司

• 在SiC/GaN/Si等晶圆制造中,WAT(Wafer Acceptance Test)即晶圆允收测试是非常重要的,它对晶圆厂的新工艺研发(Process Development)和工艺控制监测(Process Control Monitor或PCM)有重要意义。 然而,长期以来,WAT测试设备主要由国外企业垄断。最近,联讯仪器宣布,他们的WAT半导体参数测试系统实现了新突破,推出了多款具有国际竞争力的技术创新与差异化产品。 WAT参数测试系统挑战:极高的测试精度、效率 WAT又称WAT工艺控制监测,是Wafer出Fab厂前的最后一道测试工序。WAT测试通常都是利用晶圆切割道上专门设计的测试结构完成的(图1),通过这些测试结构的组合和测试结果的分析,可以监控晶圆制造过程和工序偏差。WAT数据也作为晶圆交货的质量凭证,提交给晶圆厂的客户。 图1 晶圆切割道上的测试结构 WAT 测试是半导体测试中对量测精度要求最高的,对各种测试测量仪表提出了较高的要求。WAT参数测试系统中的核心测量模块主要是为测试结构提供激励源和测量各种参数,主要包括: 1 SMU(Source Measurement Unit 源测量单元) 2 FMU(Frequency Measurement Unit 频率测量单元) 3 SPGU(Semiconductor Pulse Generate Unit 半导体脉冲产生单元) 4 CMU(Capacitance Measurement Unit 电容测量单元) 5 DMM (Digital Multi-meter高精度数字万用表) 6 SM(Semiconductor Switch Matrix 半导体开关矩阵) 随着集成电路的制造工艺一直在往前演进,从微米进入到现在的纳米级时代,制造工艺越来越复杂,制造工序越来越多。这也给测试带来诸如电噪声干扰、电磁相互干扰及温度管理等挑战。 联讯仪器解释,为了保证一定良率,用来监控

  

• 苏州联讯仪器股份有限公司（Semight Instrument），致力于填补国内高端测试仪表和测试装备的空白，包括高速通信测试、光芯片测试和半导体测试三大领域，可提供的产品有高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪、通用数字源表等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE、激光器芯片老化机、激光器芯片测试机、硅光晶圆测试机、功率芯片测试机、晶圆老化机、半导体参数测试机等高端测试设备。经过近6年专业领域的精耕细作及日以继夜争分夺秒的奋起直追精神，联讯仪器先后获评国家创新人才推进计划科技创新创业人才、国家专精特新小巨人企业、中国潜在独角兽企业、江苏省潜在独角兽企业、苏州市独角兽培育企业、江苏省专精特新小巨人企业、江苏省“双创计划”、江苏省重点研发计划、苏州市姑苏创新创业领军人才、苏州市瞪羚企业、苏州市光通信产业20强、苏州市苏州高新区重点创业团队、江苏省/苏州市高速光通信芯片及模块测试装备工程技术研究中心等资质荣誉称号，公司有完善的员工激励平台和政策，随着5G、大数据、半导体等行业蓬勃发展，亟需补充各类人才，加入联讯仪器，共同成长，相互成就。

• 学历要求为本科的岗位。

• 公司参与中标46次，中标金额为8573.15（万元），最近项目为：生产及研发能力提升和建设项目中标结果公示、武汉电信器件有限公司2024年第13批采购项目中标结果公告、天津厂房数字源表采购项目竞争性谈判采购成交结果公示。